Анализ оптических констант в кристаллах.


Приветствуем Вас на нашем сайте! На текущей странице нашего сайта вы найдете большой сборник статей под общим заголовком «Проблемы надежности машин и механизмов». Для того, чтобы Вам было удобно весь предоставленный на сайте материал аккуратно разделен на страницы подобно бумажной книги.


Читать предыдущие записи К оглавлениюЧитать дальше

АНАЛИЗ ОПТИЧЕСКИХ КОНСТАНТ В КРИСТАЛЛАХ

В.Л. Ткалич, И.Ю. Гатчин, Хоанг Зянг, М.А. Коробейникова

Санкт-Петербургский Государственный университет информационных технологий, механики и оптики, Россия

Сложность исследования низкосимметричных кристаллов заставляет искать новые подходы, которые бы гарантировали решение обратной задачи эллипсометрии и обеспечивали приемлемую точность определения оптических постоянных, а также углов, задающих ориентацию кристаллографических осей кристалла (если ориентация их заранее неизвестна). Одним из эллипсометрических методов исследования таких кристаллов является метод иммерсионной эллипсометрии (ИЭ) анизотропных сред.

В ходе экспериментальных исследований оптические постоянные поглощающего ромбического кристалла TbFeO3 были определены методом ИЭ, и для сопоставления методом основанном на использовании приближенных соотношений.

Исследуемый монокристалл TbFeO3 был огранен кристаллографическими плоскостями (001) и (110).

Для измерений использовался эллипсометр с длиной волны= 6328 ангстрема. Оба метода реализуются в таких случаях ориентации кристаллографических осей, когда матрица отражения диагональна, поэтому возможны двухзонные усреднения, устраняющие систематические ошибки эллипсометра. Для увеличения точности измерений был проведен учет оптической активности компенсатора посредством переопределения нулевых положений поляризатора. Был также проведен учет не идеальности компенсатораи рассчитывались по инвариантам эллипсометрии в

каждом цикле измерения, что позволило сразу учитывать температурную зависимость параметров компенсатора. На базе постоянно корректируемых в процессе измерений и рассчитывались эллипсометрические параметрыи.

В случае иммерсионных измерений в кювету плоскопараллельным слоем заливалась жидкость такой толщины, чтобы пучок, отраженный от поверхности иммерсии, не перекрывался пучком, отраженным от образца. Плоскопараллельность слоя иммерсии (глицерина) обеспечивает автоматическое выполнение условия при падении света на кристалл. При этом необходим учет отражения света на границе воздух - иммерсия и иммерсия - воздух (переходной слой на поверхности жидкости вносит очень малый вклад и им можно пренебречь). Показатель преломления глицерина измерялся на рефрактометре с точностью до трех знаков после запятой, с последующим пересчетом на длину волны гелий - неонового лазера= 6328 ангстрема. Это обеспечило приемлемую точность третьего значения тензора диэлектрической проницаемости, соответствующего оси перпендикулярной оси кристалла. Нахождение этого значения тензора диэлектрической проницаемости сопряжено с определенными трудностями и менее точное, чем два других.


Читать предыдущие записиК оглавлениюЧитать дальше